北京探針測試臺（英文叫Prober station,中文又稱中測臺,點測機。）、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。

產(chǎn)品型號：SN/ST-102B

更新時間：2024-10-17

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產(chǎn)地類別	國產(chǎn)

探針測試臺中測臺點測機

型號：SN/ST-102B

北京探針測試臺（英文叫Prober station,中文又稱中測臺,點測機。)、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。

技　術(shù)　指　標 ：

工作臺面	370mm*245mm
載物臺直徑	4"
光學(xué)參數(shù)	總放大率：21-135倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm；
精密旋轉(zhuǎn)臺	粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座	探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；三維探針座在工作臺面可任意位置固定，由磁性開關(guān)控制； zui多可布三維探針座6個；探針臂伸出長度：60mm；探針長度：40mm；
探針	探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm；

標準配置：主工作臺、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。

可按用戶的實際需求進行訂做。

技　術(shù)　指　標：

工作臺面	370mm*245mm
載物臺直徑	4"
光學(xué)參數(shù)	總放大率：21-135倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm；
精密旋轉(zhuǎn)臺	粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座	探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；三維探針座在工作臺面可任意位置固定，由磁性開關(guān)控制； zui多可布三維探針座6個；探針臂伸出長度：60mm；探針長度：40mm；
探針	探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm；